中電科風(fēng)華國(guó)產(chǎn)第三代半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備出貨

作者 | 發(fā)布日期 2023 年 01 月 12 日 17:26 | 分類(lèi) 碳化硅SiC

近日,中電科風(fēng)華信息裝備股份有限公司推出首款具備完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的第三代半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備—Mars 4410。目前,該設(shè)備已陸續(xù)發(fā)往國(guó)內(nèi)多家客戶(hù)進(jìn)行使用。

Source:中電科風(fēng)華

半導(dǎo)體制造工藝十分復(fù)雜,稍有差錯(cuò)都可能影響芯片功效。半導(dǎo)體檢測(cè)貫穿半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝三大流程,有效的檢測(cè)可以提高良率、控制成本。

Mars 4410 是碳化硅器件產(chǎn)線中的關(guān)鍵裝備,用于對(duì)碳化硅襯底片、外延片、腐蝕片的缺陷檢測(cè)。設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)經(jīng)過(guò)兩年不懈努力,攻克了激光散射、顯微成像等光學(xué)檢測(cè)核心關(guān)鍵技術(shù)。

Source:中電科風(fēng)華

設(shè)備采用差分干涉相襯、光致發(fā)光、暗場(chǎng)等多種檢測(cè)手段,晶圓檢測(cè)可與數(shù)據(jù)分析并行處理,晶圓缺陷可與器件失效相關(guān)聯(lián),具有低噪聲和高分辨率成像、高檢測(cè)通量、高檢出率和準(zhǔn)確性等優(yōu)勢(shì),能滿(mǎn)足提升 SiC 器件良率的需求。

中電科風(fēng)華成立于1998年,注冊(cè)在山西轉(zhuǎn)型綜合改革示范區(qū),隸屬于中國(guó)十大央企軍工集團(tuán)—— 中國(guó)電子科技集團(tuán)有限公司,是中國(guó)電科半導(dǎo)體裝備領(lǐng)域核心成員單位,是首批國(guó)家級(jí)創(chuàng)新型企業(yè),國(guó)家級(jí)“專(zhuān)精特新”小巨人企業(yè),國(guó)家第三代半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新中心(山西)共建單位。

公司與浙江大學(xué)、之江實(shí)驗(yàn)室、??禉C(jī)器人開(kāi)展產(chǎn)學(xué)研用深入合作,在半導(dǎo)體、高端裝備、電子信息等領(lǐng)域承擔(dān)了30余項(xiàng)國(guó)家級(jí)、省部級(jí)科技創(chuàng)新項(xiàng)目。產(chǎn)品布局分為半導(dǎo)體顯示、半導(dǎo)體檢測(cè)、光伏新能源、汽車(chē)電子、微電子等五大專(zhuān)用生產(chǎn)設(shè)備板塊。(文:集邦化合物半導(dǎo)體 Cecilia整理)

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